射频导纳物位计的测量原理

发布日期：2014-10-01 浏览次数：99

　　传统的电容式物位计，随着物位上涨、物料覆盖探头，电路中探头和介质之间的电容值（导电物料场合）或者探头和管壁之间的电容值（绝缘物料场合）随之增加。由于物位的变化导致了电容桥的失衡，所以电容值的变化取决于被测物料的介电常数。然后通过对信号的检波、放大，最后输出相应的信号。然而，电容式物位仪表有一些缺点，特别是当探头有挂料的时候会严重影响测量结果。
　　
　　测量技术是具有独特优势的物位测量技术。虽然跟一般的电容式测量技术的概念很相似，但是射频导纳技术在电子单元中加入了Driving-Shield电路和斩波电路，因此能够实现阻抗和容抗的单独测量。通过物理定律计算可得，任何挂料的阻抗和容抗的大小是相等的，所以由挂料产生的影响能够被测量出来并且通过振荡电路的移相，从总的输出中消除。
　　
　　射频导纳产品的探头安装在储料罐中，通过探头获得物位变化引起的射频信号的变化。
　　
　　探头的Driving-Shield端能够阻止射频电流通过挂料形成回路，保证了仪表测量的准确性。
　　
　　射频导纳技术测量结果精度高，并且不受探头挂料的影响，是目前使用场合最广泛的一种测量技术。从低温-100℃到高温800℃、从真空到6.3MPa强压场合、从超短量程到120米超大量程，都能够正常应用，并且能够应用于不同类型的物料。